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提纲:1.雷电现象对电子产品造成的危害;2.雷电现象产生的原因;3.电子设备浪涌试验波形的选择;4.最新标准差异说明;5.实验环境及cdn的差异对实验结果的影响;6.高速通讯cdn中耦合器件对通讯速率影响量的介绍;7.通讯cdn的校准方法。

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